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Decap芯片开盖

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  • 关 键 词:芯片去胶服务|化学蚀刻开盖服务|雷射蚀刻开盖服务
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  • ***更新: 2017-07-21 09:22:57
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Decap芯片开盖详细说明

芯片去胶服务,化学蚀刻开盖服务,雷射蚀刻开盖服务,宜特检测

工作原理:
化学蚀刻开盖 : 在IC封装胶体上,利用化学溶液,蚀刻一个大小及深度适中的区域,使打线或晶粒裸露,且不破坏及改变样品原来电性。
雷射蚀刻开盖 : 利用雷射去除IC封装胶体,较一般化学蚀刻开盖定位精细,与化学蚀刻搭配使用,可减少样品与化学蚀刻液的接触时间,藉此提升实验良率。

应用:
通常为实验分析之第一步骤,后续实验可接续:外观异常检视 / 层次去除 / FIB / EMMI / 封装打线等等。

关于宜特:

iST宜特始创于1994年的中国台湾,主要以提供集成电路的可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海,全球现已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。


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